日本日置 HIOKI 测试仪 3504

日本日置 HIOKI 测试仪 3504

2018-12-20 10:52:38  

日本日置 HIOKILC测试仪3504-40/50/60 特点: 高速测量2ms 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误,提高成品率 技术参数: 测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系

日本日置 HIOKILC测试仪3504-40/50/60

特点:
高速测量2ms
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率

技术参数:
测量参数
Cs,Cp(电容),D(损耗系数tan)
测量范围
C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本確度
(代表値)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B~Eは各係数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:CV1V: ~ 70 µF 量程(测量频率1kHz)
CV1V: ~ 700 µF 量程(测量频率120Hz)
CV500 mV: ~ 170 µF 量程(测量频率1kHz)
CV500 mV: ~ 1.45mF 量程(测量频率120Hz)
信号电平精度 ±10% ± 5 mV
输出电阻
5Ω(CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示
发光二级管
测量时间
典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
機能
BIN 分选测量功能(仅限于3504), 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口(标准), GP-IBイ接口(仅限于3504)
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

注意:不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头
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