日本西格玛SIGMA电介质膜立方体半反射镜CSMH-20-405产品描述：
特征：
电介质膜立方体半反射镜由两块直角棱镜组成，其中一块的斜面上镀了电介质多层部分反射膜。 半反射镜把入射光按1：1的比例等分为反射光和透过光。我们把1：1的分光镜称作半反射镜。 在立方体的入射和出射面上，镀了防反射多层膜。 因为电介质膜吸收小，减少了输入光量的损失。其反射和透过的比例，随波长，偏光状态以及入射角的不同而变化。 不象平板分光镜，立方体分光镜几乎不发生光轴偏移和重影现象。 注意
用记号○表示棱镜的入射面。 分光镜的反射和透过的比例，随入射光的偏光状态而变化。此产品专为非偏光或圆偏光而设计。如果您需要的是一个分光比例和偏光状态无关的分光镜，则请使用非偏光立方体半反射镜。 曾有客户向我们提出，说这类产品不起半反射镜的作用。出现这种情况，请先检查光源的偏光状态。这里特别需要指出的是，半导体激光一般是线偏光。 透过率曲线是样品的实测值，而且可能随制造批次不同而变化。 面精度是镀膜前的反射波面精度。 检查光路和调整光轴时，请一定戴好激光防护镜。
材料
BK7
面精度
λ/4
透过光束偏角
≤10分
表面质量
40 - 20
有效尺寸范围
实际尺寸的85%的圆
但是边长为5和7 mm的产品为80%
光学膜
斜面：电介质多层部分反射膜(反射与透过比例R∶T=1∶1)
4面：防反射多层膜
偏光状态
非偏光或圆偏光
规格参数：
型号
A=B=C
[mm]
材料
面精度
光轴偏移
R : T
AR
波长范围
[nm]
CSMH-10-405NEW
10
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-15-405NEW
15
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-20-405NEW
20
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-25-405NEW
25
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-30-405NEW
30
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
特征：
电介质膜立方体半反射镜由两块直角棱镜组成，其中一块的斜面上镀了电介质多层部分反射膜。 半反射镜把入射光按1：1的比例等分为反射光和透过光。我们把1：1的分光镜称作半反射镜。 在立方体的入射和出射面上，镀了防反射多层膜。 因为电介质膜吸收小，减少了输入光量的损失。其反射和透过的比例，随波长，偏光状态以及入射角的不同而变化。 不象平板分光镜，立方体分光镜几乎不发生光轴偏移和重影现象。 注意
用记号○表示棱镜的入射面。 分光镜的反射和透过的比例，随入射光的偏光状态而变化。此产品专为非偏光或圆偏光而设计。如果您需要的是一个分光比例和偏光状态无关的分光镜，则请使用非偏光立方体半反射镜。 曾有客户向我们提出，说这类产品不起半反射镜的作用。出现这种情况，请先检查光源的偏光状态。这里特别需要指出的是，半导体激光一般是线偏光。 透过率曲线是样品的实测值，而且可能随制造批次不同而变化。 面精度是镀膜前的反射波面精度。 检查光路和调整光轴时，请一定戴好激光防护镜。
材料
BK7
面精度
λ/4
透过光束偏角
≤10分
表面质量
40 - 20
有效尺寸范围
实际尺寸的85%的圆
但是边长为5和7 mm的产品为80%
光学膜
斜面：电介质多层部分反射膜(反射与透过比例R∶T=1∶1)
4面：防反射多层膜
偏光状态
非偏光或圆偏光
规格参数：
型号
A=B=C
[mm]
材料
面精度
光轴偏移
R : T
AR
波长范围
[nm]
CSMH-10-405NEW
10
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-15-405NEW
15
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-20-405NEW
20
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-25-405NEW
25
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
CSMH-30-405NEW
30
BK7
λ/4
≤10分
1:1
4面BMAR
390—410
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