日本西格玛反射率测量仪SGRM-200
特征：
采用了特殊的半透镜，能高效地收集试样表面的反射光，并导入分光计。它可以快速的完成低反射率样品的测量。 采用了特殊的半透镜，有效地避免了底面反射的影响，被测样品的反面不需特殊处理，提高了测量精度。 采用了512像素的线性PDA，16位A/D转换器，USB2.0接口，高速数据处理技术。 最大限度地提高了光纤到窄缝，以及调整机构的光量利用效率，可以快速地实现高再现性的测量。 试样面上的可测范围小至于50µｍ，因此可以测量透镜曲面的反射率或光学膜的一致性。 可用Excel文件格式保存测量数据。 可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果（曲线），对比方便。
特征：
采用了特殊的半透镜，能高效地收集试样表面的反射光，并导入分光计。它可以快速的完成低反射率样品的测量。 采用了特殊的半透镜，有效地避免了底面反射的影响，被测样品的反面不需特殊处理，提高了测量精度。 采用了512像素的线性PDA，16位A/D转换器，USB2.0接口，高速数据处理技术。 最大限度地提高了光纤到窄缝，以及调整机构的光量利用效率，可以快速地实现高再现性的测量。 试样面上的可测范围小至于50µｍ，因此可以测量透镜曲面的反射率或光学膜的一致性。 可用Excel文件格式保存测量数据。 可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果（曲线），对比方便。
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