千野 CHINO 新形光纤式辐射湿度仪 IR-FA

千野 CHINO 新形光纤式辐射湿度仪 IR-FA

2018-09-28 16:31:39   1

名称 形式 本体部 检出元件 InGaAs IR-FAI□□□ 本体部 检出元件 Si IR-FAS□□□ 集光部形式 名称 形式 集光部 测定距离和测定径 100mm时为Ф1mm IR-FL0□□□□ 集光部 测定距离和测定径 1000mm时为Ф12mm IR-FL1□□□□ 集光部 测定距离和测定径 500mm时为Ф5mm IR-FL2□□□□

名称
形式
本体部 检出元件 InGaAs
IR-FAI□□□
本体部 检出元件 Si
IR-FAS□□□

集光部形式

名称
形式
集光部 测定距离和测定径 100mm时为Ф1mm
IR-FL0□□□□
集光部 测定距离和测定径 1000mm时为Ф12mm
IR-FL1□□□□
集光部 测定距离和测定径 500mm时为Ф5mm
IR-FL2□□□□
集光部 测定距离和测定径 200mm时为Ф2mm
IR-FL3□□□□
集光部 测定距离和测定径 200mm时为Ф4mm
IR-FL4□□□□
集光部 测定距离和测定径 150mm时为Ф5mm
IR-FL5□□□□
集光部 测定距离和测定径 600mm时为Ф20mm
IR-FL6□□□□
集光部 测定距离和测定径 1000mm时为Ф8mm
IR-FL8□□□□

电源单元形式

名称
形式
电源单元
IR-ZFEP

标准量程

检出元件
测定范围
集光部
InGaAs
150~450℃
200~700℃
250~1000℃
300~1300℃
IR-FL5、IR-FL6
250~1000℃
300~1300℃
350~1600℃
IR-FL0、IR-FL1、IR-FL2、IR-FL3、IR-FL4、IR-FL8
Si
400~900℃
500~1200℃
600~1800℃
700~2400℃
IR-FL5、IR-FL6
600~1800℃
700~2400℃
800~3000℃
IR-FL0、IR-FL1、IR-FL2、IR-FL3、IR-FL4、IR-FL8

规格
本体部

形式
IR-FAI
IR-FAS
检出元件
InGaAS
Si

测定波长
1.55µm
0.9µm

精度
1000℃未满:±5℃
1000℃以上1500℃未满:测定值的:±0.5%
1500℃以上2000℃未满:测定值的:±1%
2000℃以上:测定值的±2%

重复性
0.2℃

温度漂移
0.1℃或测定值的0.015%/℃中大的值

分辨率
0.5℃

响应时间
0.01s

辐射率修正
辐射率设定值:1.999~0.050

信号调制
DELAY:平均值(平滑度)(调制度0.0-99.9s、0.1s/步
任意设定)、调制度0=REAL、
PEAK:最高值(调制度0<

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