日本春日KASUGA KSD-3000 数显低电位测试仪产品特点：
1：电子设备的静电抗性下降，静电管理电压也下降。
2：以前测量机种困难，高精度测量100v以下的带电，0.1v的测量就可以了。同时，通过绞测量区域，也可测量LSI的包装表面等窄的区域。
3：能测量静电破坏的原因的低电位的静电。
4：可以通过有效距离转换功能追加微小电位的测量。
5：通过缩短测量距离、测量区域，可测量约20mm四方的区域，能测量高精度小电子设备表面电位。
6：表示部和感应部分开，能测量窄的地方，在身边也能看测量值。
7：从小电子元件的测量，广大物的电位分布的测量。
8：可转换顶峰抓柄测量和连续测量。
9：装有感应传感器故障诊断电路，故障时会显示。作为(专利)附有根据电源消除对电池消耗对策休眠模式功能。
产品用途：
1：各种电子设备的带电电位测量。
2：印刷电路板等的电位分布的测量。
3：其他带电量少的物体的测量。
产品规格：
型号 KSD-3000 感应方式 振动型表面电位传感器
测量范围 High有效距离 ±1～±5000V
Low有效距离±0.1～±500V 模拟输出 0～±500mV（High有效距离） 测量精度 ±10％以内 测量标准距离 10mm 测量方式 连续测量或顶峰手抓柄 环境 温度0～40℃、湿度65％RH以下（不会结冰打霜） 电源 单3碱电池2节（连续使用10小时以上）
尺寸 实体：121（D）×70（W）×22（H）mm
探针：117（L）mm×18φ 重量 约230g(探针、含电池) 配件选择 AC适配器(AC100～240V）
模拟输出电缆(L=1000mm)
测量举例(方法):
各部位名称:
1：电子设备的静电抗性下降，静电管理电压也下降。
2：以前测量机种困难，高精度测量100v以下的带电，0.1v的测量就可以了。同时，通过绞测量区域，也可测量LSI的包装表面等窄的区域。
3：能测量静电破坏的原因的低电位的静电。
4：可以通过有效距离转换功能追加微小电位的测量。
5：通过缩短测量距离、测量区域，可测量约20mm四方的区域，能测量高精度小电子设备表面电位。
6：表示部和感应部分开，能测量窄的地方，在身边也能看测量值。
7：从小电子元件的测量，广大物的电位分布的测量。
8：可转换顶峰抓柄测量和连续测量。
9：装有感应传感器故障诊断电路，故障时会显示。作为(专利)附有根据电源消除对电池消耗对策休眠模式功能。
产品用途：
1：各种电子设备的带电电位测量。
2：印刷电路板等的电位分布的测量。
3：其他带电量少的物体的测量。
产品规格：
型号 KSD-3000 感应方式 振动型表面电位传感器
测量范围 High有效距离 ±1～±5000V
Low有效距离±0.1～±500V 模拟输出 0～±500mV（High有效距离） 测量精度 ±10％以内 测量标准距离 10mm 测量方式 连续测量或顶峰手抓柄 环境 温度0～40℃、湿度65％RH以下（不会结冰打霜） 电源 单3碱电池2节（连续使用10小时以上）
尺寸 实体：121（D）×70（W）×22（H）mm
探针：117（L）mm×18φ 重量 约230g(探针、含电池) 配件选择 AC适配器(AC100～240V）
模拟输出电缆(L=1000mm)
测量举例(方法):
各部位名称:
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